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Obiettivi dell'insegnamento
Scopi
Il corso sviluppa l'analisi e la caratterizzazione elettrica dei circuiti integrati digitali,
con enfasi sugli aspetti che integrano la tecnologia di realizzazione con le prestazioni
statiche e dinamiche di tali circuiti. Vengono discussi, con particolare riferimento alla
tecnologia CMOS le soluzioni circuitali e gli elementi di progetto delle porte logiche
elementari e dei sottosistemi integrati combinatori e sequenziali più utilizzati.
Vengono inoltre analizzate le architetture e i circuiti costituenti le attuali memorie a
semiconduttore statiche e dinamiche.
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Prerequisiti
Sono previste le seguenti precedenze di acquisto:
Ulteriori propedeuticità concettuali:
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Programma
- Famiglie logiche - compatibilitá fra porte logiche.
- Porte logiche TTL, CMOS, pseudo-NMOS: struttura interna, principi di funzionamento, transcaratteristica.
- Circuiti logici combinatori (a livello transistor).
- Circuiti sequenziali (a livello porta).
- Logiche dinamiche (a livello transistor).
- Memorie RAM statiche e dinamiche (cella e sense amplifier a livello transistor, struttura ed organizzazione a livello di blocco).
Per le corrispondenze con i testi, vai alla sezione apposita.
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Bibliografia
Testi consigliati dal docente responsabile del corso:
- P. Spirito, Elettronica Digitale, seconda edizione (con CD-ROM), McGraw-Hill, 2002. ISBN 88 386 6046-8.
- P. U. Calzolari, G. Masetti, Elettronica dei sistemi digitali - raccolta dei lucidi - seconda parte, Consorzio NETTUNO, Pitagora Editrice, Bologna, 1997 - (Parte 6)
- Jan M. Rabaey, Anantha Chandrakasan, Borivoje Nicolic, Digital Integrated Circuits, Prentice Hall
Dispense in formato PDF a supporto del corso realizzate da Ivan Blunno per l'a.a. 2004-2005:
Videocorso utilizzato: Elettronica dei sistemi digitali
- Prof. Paolo Spirito, Università
Federico II di Napoli
- Prof. Giulio Masetti, Università di Bologna
- Prof. Pier Ugo Calzolari, Università di Bologna
- [1.] Presentazione del corso: elettronica analogica e digitale; metodologia di progetto dei sistemi digitali; argomenti del corso; ausili didattici
- [2.] Porte logiche elementari: livelli logici; margini di rumore; tempi di propagazione; porte logiche NAND e NOR
- [3.] Tecnologie microelettroniche: processo fotolitografico; processi tecnologici per circuiti integrati; esempio di una struttura MOS; regole di progetto
- [4.] Porte logiche NMOS (parte 1): invertitore NMOS con carico resistivo; invertitori NMOS con carichi attivi; analisi statica
- [5.] Porte logiche NMOS (parte 2): analisi dinamica; tracciato dell'invertitore; progetto ad area minima
- [6.] Porte logiche NMOS (parte 3): tempi di propagazione; potenza dissipata; porte logiche NOR e NAND in tecnologia NMOS
- [7.] Porte logiche CMOS (parte 1): tecnologia CMOS; invertitori CMOS; caratteristica di trasferimento e margini di rumore, tracciato di invertitore CMOS; analisi del comportamento dinamico
- [8.] Porte logiche CMOS (parte 2): tempo di propagazione; potenza dissipata dinamica; porte NOR e NAND
- [9.] Esercitazioni su porte NMOS: analisi statica di invertitori NMOS; analisi dinamica di invertitori NMOS
- [10.] Esercitazioni su porte NMOS e CMOS: effetto della capacità di carico su porta NMOS; analisi statica di invertitore CMOS; analisi dinamica di invertitori CMOS
- [11.] Porte logiche bipolari (parte 1): esercitazione SPICE su invertitori CMOS in cascata; richiami sul transistore bipolare; caratteristica I-V del transistore bipolare; invertitore elementare RTL
- [12.] Porte logiche bipolari (parte 2): analisi statica dell'invertitore RTL; tempo di accumulo del transistore bipolare; dinamica dell'invertitore RTL
- [13.] Porte logiche TTL (parte 1): schema elementare di invertitore TTL; analisi della commutazione basso-alto in uscita; caratteristica di trasferimento dell'invertitore
- [14.] Porte logiche TTL (parte 2): caratteristiche di ingresso e di uscita; FAN OUT della porta; potenza dissipata statica; dinamica dell'invertitore; porte NAND TTL con transistore a multiemettitore
- [15.] Porte logiche TTL (parte 3): reti di PULL-UP e PULL-DOWN; porte logiche TTL Schottky; porte TTL-S ad alta velocità o a basso consumo
- [16.] Esercitazione SPICE su porte TTL: caratteristica di trasferimento di invertitori TTL; analisi dinamica di porte TTL; effetto della capacità di carico sul tempo di propagazione
- [17.] Porte logiche ECL (parte 1): invertitore elementare in logica non saturata; schema elettrico dell'invertitore ECL; analisi dei livelli logici
- [18.] Porte logiche ECL (parte 2): margini di rumore dell'invertitore ECL; effetti termici sui livelli logici e sui margini di rumore; potenza dissipata
- [19.] Porte logiche ECL (parte 3) e circuiti combinatori con porte standard: porte ECL 10k e 100k; confronto tra le famiglie logiche CMOS, TTL ed ECL; porte A-O-I; porte in logica cablata
- [20.] Connessione ed interfacciamento tra porte logiche: logica cablata "wired and" e "wired or"; porte "tri-state"; interfacciamento tra famiglie logiche differenti
- [21.] I circuiti CMOS complessi (parte 1)
- [22.] I circuiti CMOS complessi (parte 2)
- [23.] I circuiti CMOS dinamici (parte 1)
- [24.] I circuiti CMOS dinamici (parte 2)
- [25.] I circuiti CMOS dinamici (parte 3)
- [26.] I circuiti CMOS rigenerativi (parte 1)
- [27.] I circuiti CMOS rigenerativi (parte 2)
- [28.] I circuiti CMOS rigenerativi (parte 3)
- [29.] I circuiti CMOS rigenerativi (parte 4)
- [30.] I circuiti CMOS rigenerativi (parte 5)
- [31.] Circuiti buffer (parte 1)
- [32.] Circuiti buffer (parte 2)
- [33.] buffer CMOS
- [34.] buffer BiCMOS
- [35.] Circuiti BiCMOS - Memorie: introduzione
- [36.] RAM statiche
- [37.] RAM statiche "avanzate" - RAM dinamiche (parte 1)
- [38.] RAM dinamiche (parte 2)
- [39.] Memorie non volatili (parte 1)
- [40.] Memorie non volatili (parte 2) - Considerazioni finali
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Controlli dell'apprendimento / Modalità d'esame
L'esame puó essere svolto secondo due modalitá differenti:
- Esonero: consiste in una prova scritta composta da una parte di teoria (su tutti
gli argomenti delle cassette) e da una di progettazione, analoga alla domanda scritta della
modalità standard;
- Modalità standard: consiste in una domanda scritta (esercizio), corretta
all'inizio della prova orale, seguita da una o più domande orali di carattere maggiormente
teorico.
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Orario delle lezioni
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Statistiche superamento esami
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Programma definitivo per l'A.A.2011/12
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