Il corso e’ tenuto in lingua inglese.

La sempre piu’ aggressiva miniaturizzazione dell’elettronica e dei sistemi di comunicazione attuali e di futura generazione, come gli smartphones e i tablets che combinano funzioni diverse (digitali, analogiche, ottiche, bio sensori, MEMS ecc.) all’interno di volumi molto compatti, costituisce una enorme sfida alla progettazione di tali dispositivi.
Indesiderate interazioni fra le diverse parti del sistema possono condurre ad un abbassamento della qualita’ della performance e al malfunzionamento, a meno che non si applichino appropriate strategie di progettazione che garantiscano l’integrita’ dei segnali funzionali e di alimentazione del sistema. Questo corso fornisce sia una comprensione essenziale delle principali cause di deterioramento del segnale che una serie di strategie adeguate mirate ad un design robusto ed affidabile.

Gli studenti impareranno a
- comprendere I principali meccanismi del deterioramento dell'integrita' dei segnali funzionali e di alimentazione nei sistemi elettronici
- analizzare qualitativamente e quantitativamente e fornire semplici modelli per i piu’ comuni problemi di deterioramento del segnale dei circuiti integrati
- applicare metodologie di progettazione e strumenti per massimizzare l’affidabilita’ dei sistemi

Teoria dei circuiti e fondamenti di campi elettromagnetici.

Introduzione alla progettazione consapevole di sistemi elettronici ad elevate prestazioni. Avvicinamento alla modellazione e alla simulazione.
Descrizione fisica, modelli e regole di progettazione di interconnessioni elettriche. Effetti sull’integrita’ dei segnali: diafonia e perdite di segnale. Schemi di segnale robusti. Schermatura e cavi "twistati".
Sistemi per la distribuzione dell’alimentazione e integrita’ di segnale a livello di chip, package e board.
Interferenza elettromagnetica e radiazione. Immunita’.
Schermatura e "grounding".

Il corso include sessioni di esercitazioni e laboratorio.

- materiale distribuito durante le lezioni
- C.R.Paul, "Introduction to electromagnetic compatibility," seconda edizione, Wiley
- H.Ott, "Electromagnetic compatibility engineering," Wiley
- S.H.Hall and H.L.Heck, "Advanced signal integrity for high-speed digital designs"

Test scritto completato da un esame orale. Possibile richiesta di compiti a casa in sostituzione dell’esame scritto.