The course is taught in English.

Il corso ha lo scopo di illustrare agli studenti l'importanza del collaudo nel ciclo di sviluppo e produzione di un sistema embedded, presentando poi le principali tecniche utilizzate in pratica a tale fine. Il corso si concentrerà in particolare sulle tecniche per il collaudo dei circuiti integrati custom, dei processori, e delle memorie, trattando anche la tematica del collaudo dei sistemi. Il corso introdurrà anche i concetti base relativi all’affidabilità dei sistemi elettronici. Durante il corso gli studenti potranno utilizzare alcuni strumenti commerciali quali simulatori di circuiti guasti e generatori automatici di sequenze di collaudo.

- Conoscenza del concetto di collaudo.
- Conoscenza delle principali tecniche per il collaudo di un circuito integrato.
- Conoscenza delle principali tecniche per il collaudo di un sistema embedded.
- Capacità di utilizzo dei principali strumenti per il collaudo di un sistema embedded: fault simulator, automatic test pattern generator, strumenti per l'inserimento di catene di scan.
- Conoscenza del concetto di Built-In Self-Test (BIST).
- Capacità di sviluppo di moduli hardware dotati di caratteristiche BIST.

- Conoscenze di base nel campo della progettazione di sistemi elettronici digitali

Introduzione al collaudo
- Definizioni
- Importanza
- Metriche per la valutazione della bontà di un processo di collaudo
- Modelli di guasto

Tecniche e strumenti per lo sviluppo di sequenze di collaudo per circuiti combinatori e sequenziali
- Il modello stuck-at
- Simulazione di circuiti guasti
- Generazione automatica di sequenze di guasto
- Collassamento di liste di guasti

Tecniche e strumenti per il collaudo di dispositivi specifici
- Memorie
- Processori

Le tecniche di Design for Testability
- Le tecniche di scan
- Le tecniche BIST

Tecniche per il collaudo di sistemi

Per ogni settimana del corso è previsto lo svolgimento di una esercitazione di laboratorio della durata indicativa di 1,5 ore, durante le quali gli studenti potranno mettere in pratica gli aspetti visti a lezione. Le esercitazioni in laboratorio comprenderanno l’uso di strumenti commerciali per la Fault Simulation, la Scan Insertion e la Automatic Test Pattern Generation.

M. Bushnell, V. Agrawal:
Essentials of Electronic Testing for Digital, Memory, and Mixed-Signal VLSI Circuits
Kluwer Academic Publisher, 2000

L’esame comprende una prova scritta eventualmente seguita (se la prima ha avuto esito positivo) da una prova orale.