PERIOD: APRIL - MAY The course aims to provide the basic knowledge on crystallographic structure of crystalline substances and on the interaction of radiation X with the matter. Particular attention will be spent to X-ray diffraction by crystalline materials, a phenomenon that is at the basis of one of the techniques of microstructural characterization of wider use.

X-ray: nature, production, properties and applications. Diffraction phenomenon. Diffraction by a lattice. Basic concepts of crystallographic symmetry. Single crystal. Powder sample (Bragg Brentano). Quantitative analysis. Crystallite size. Amorphous phase. Small angle X-ray scattering (SAXS). Data processing. Extracting information. Peak profile and deconvolution. Phase search/match. Case studies. Stress analysis by mean x-ray diffraction. The microdiffraction . Crystal growth. X-Ray diffraction in case of metallic materials. Iron and Al-based alloys: real case studies. The Rietveld Method.

Modalità di esame:

Exam:

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Gli studenti e le studentesse con disabilità o con Disturbi Specifici di Apprendimento (DSA), oltre alla segnalazione tramite procedura informatizzata, sono invitati a comunicare anche direttamente al/la docente titolare dell'insegnamento, con un preavviso non inferiore ad una settimana dall'avvio della sessione d'esame, gli strumenti compensativi concordati con l'Unità Special Needs, al fine di permettere al/la docente la declinazione più idonea in riferimento alla specifica tipologia di esame.