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Metodi per la valutazione dell'affidabilità per dispositivi programmabili (FPGA) con riconfigurazione dinamica
Parole chiave AFFIDABILITA', DISPOSITIVI LOGICI PROGRAMMABILI, FPGA
Riferimenti LUCA STERPONE
Gruppi di ricerca ELECTRONIC CAD & RELIABILITY GROUP - CAD
Tipo tesi RICERCA, INNOVATIVA
Descrizione L'attività della presente tesi è orientata all'individuazione di tecniche per la valutazione dell'affidabilità, in particolare, la valutazione della sensibilità ad errori indotti da radiazioni ionizzanti per dispositivi riconfigurabili di ultima generazione (FPGA Xilinx Kintex-7). L'obiettivo della presente tesi è lo studio e sviluppo di un metodo in grado di permettere il calcolo accurato della probabilità di errore di un dispositivo utilizzato in ambienti safety critical (dall'aerospazio all'automotive o biomedicale) e di calcolare il tasso medio di errore (Soft Error Rate - SER). La tesi è svolta in collaborazione con Xilinx Ireland, sede di Dublino
Conoscenze richieste VHDL, C/C++, ASM
Note Tesi in collaborazione con Xilinx Ireland (sede di Dublino)
Scadenza validita proposta 09/10/2014
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