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INGEGNERIA ELETTRONICA,DELLE TELECOMUNICAZIONI E FISICA
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Test di ingresso Lauree Magistrali
Test di Ingresso Lauree Magistrali
Il Collegio ETF a partire dal 2014/15 ha reso obbligatorio per tutti gli studenti che si iscrivono per la prima volta o che anticipano gli insegnamenti del primo semestre delle Lauree Magistrali di
Il test si svolge presso i laboratori informatici di ateneo utilizzando la piattaforma "exam" nella prima settimana di
lezioni; è previsto un secondo turno di recupero a fine ottobre per gli studenti che non abbiano potuto partecipare alla prima
sessione.
Il test viene effettuato a libri chiusi (e' possibile svolgere eventuali passaggi algebrici e/o numerici utilizzando carta e penna) e ha la durata massima di 60 minuti.
Le domande sono formulate in lingua inglese e le risposte sono sempre in forma chiusa selezionando la risposta corretta fra le quattro indicate.
Il punteggio complessivo viene calcolato sommando 100 per ogni risposta corretta senza penalità per le risposte errate.
Il test presenta una sezione comune a tutti i corsi di studio,
costituita da 16 domande e da una sezione specifica per il corso di studio.:
- Elettronica
- Nanotecnologie per le ICT
- CE Communications Engineering
- ICT4SS ICT for Smart Societies
Il test si svolge presso i laboratori informatici di ateneo utilizzando la piattaforma "exam" nella prima settimana di
lezioni; è previsto un secondo turno di recupero a fine ottobre per gli studenti che non abbiano potuto partecipare alla prima
sessione.
Il test viene effettuato a libri chiusi (e' possibile svolgere eventuali passaggi algebrici e/o numerici utilizzando carta e penna) e ha la durata massima di 60 minuti.
Le domande sono formulate in lingua inglese e le risposte sono sempre in forma chiusa selezionando la risposta corretta fra le quattro indicate.
Il punteggio complessivo viene calcolato sommando 100 per ogni risposta corretta senza penalità per le risposte errate.
Il test presenta una sezione comune a tutti i corsi di studio,
costituita da 16 domande e da una sezione specifica per il corso di studio.:
Sezione comune: disciplina | numero di quesiti |
Matematica | 4 |
Fisica | 4 |
Elettrotecnica | 4 |
Informatica di base | 4 |
Sezione specifica LM Elettronica: disciplina | numero di quesiti |
Dispositivi elettronici | 4 |
Elettronica Analogica | 4 |
Elettronica Digitale | 4 |
Misure elettroniche | 4 |
Elettromagnetismo | 4 |
Sezione specifica LM Nanoteconologie:disciplina | numero di quesiti |
Dispositivi elettronici | 4 |
Elettronica Analogica | 4 |
Fisica Moderna | 4 |
Tecnologie Micro & Nano | 4 |
Sezione specifica LM CE: disciplina | numero di quesiti |
Segnali | 4 |
Reti | 4 |
Elettromagnetismo | 4 |
Elettronica Digitale | 4 |
Sezione specifica LM ICT4SS: disciplina | numero di quesiti |
Segnali | 4 |
Reti | 4 |
Informatica Avanzata | 4 |
Tecniche ICT | 4 |
Il punteggio ottenuto al test viene registrato sulla pagina personale dello studente.
I dati relativi al test vengono mediati per ciascuna disciplina e filtrati in funzione della provenienza degli studenti:
- Laurea ottenuta presso il Politecnico di Torino
- Laurea ottenuta presso altra Universita' italina
- Laurea ottenuta presso Universita' straniere.
In questo modo risulta possibile valutare i risultati dell'apprendimento in funzione della provienza degli studenti fornendo importanti indicazioni sull'efficacia dei corsi di studio del collegio.
Viene inoltre valutata la correlazione tra media degli esami al primo livello e punteggio del test sia per gli studenti con
titolo triennale del Politecnico di Torino sia per gli studenti provenienti da altro ateneo.
I risultati complessivi vengono discussi nella Giunta di collegio fornendo importanti indicazioni sull'adeguatezza della preparazione degli studenti nei vari ambiti di formazione.
A partire dal 2017/18 verra' segnalata agli studenti in quali sezioni siano risultati sotto media, sollecitandoli a colmare le lacune evidenziate dal test.